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酸性溶液中微晶铝的电化学腐蚀行为研究
张波; 李瑛; 王福会
2006-05
Conference Name2006年全国腐蚀电化学及测试方法学术会议
Source Publication2006年全国腐蚀电化学及测试方法学术会议论文集
Conference Date2006-05
Conference Place厦门
Abstract利用磁控溅射的方法在玻璃基体上制备了微晶铝膜.结构分析表明,其晶粒尺度在400nm左右.利用动电位极化曲线对其在酸性(pH=2)的含Cl-(0.5mol/LNaCl)和不含Cl-(0.5mol/LNaSO4)两种溶液体系中的电化学性能进行研究,并将其与铸铝进行了比较,结果表明其自腐蚀电位下降,自腐蚀电流略有增加,而维钝电流、点蚀击破电位以及钝化区间都大大增加.通过容抗测量(Mott-schottky曲线)对其钝化膜的电学性质进行了表征,结果发现在酸性的NaSO4溶液中,微晶铝和铸态铝上的钝化膜都表现为n型半导体性质;而在酸性的NaCl溶液中,铸态铝上的膜仍皇n型半导体性质,但微晶铝上的膜的电学性质发生了逆转,呈p型半导体性质.并进一步分析了膜的电子性质与其电化学性能之间的内在联系.
description.department中国科学院金属研究所,金属腐蚀与防护国家重点实验室,沈阳
Keyword微晶铝 磁控溅射 点蚀 半导体性能 电化学腐蚀
Funding Organization中国腐蚀与防护学会
Language中文
Document Type会议论文
Identifierhttp://ir.imr.ac.cn/handle/321006/70427
Collection中国科学院金属研究所
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GB/T 7714
张波,李瑛,王福会. 酸性溶液中微晶铝的电化学腐蚀行为研究[C],2006.
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