用环电流模型对槽状缺陷漏磁场分布的数值计算——裂纹状缺陷磁粉和漏磁探伤能力的研究

IMR OpenIR

	用环电流模型对槽状缺陷漏磁场分布的数值计算——裂纹状缺陷磁粉和漏磁探伤能力的研究
	蔡桂喜; 董瑞琪
	2004-10
会议名称	第九届全国无损检测新技术学术研讨会
会议日期	2004-10
会议地点	宁波
摘要	本文用环电流模型计算了各种槽形缺陷产生的漏磁场,包括标准规定的漏磁探伤对比试件上的人工伤、磁粉探伤标准试块上的人工伤、用数学方法模拟的疲劳裂纹和被检工件表面粗糙度等产生的漏磁场.将上述各种缺陷产生的漏磁场加以比较可以看出,由于疲劳裂纹开裂的缝隙十分狭窄,它所产生的漏磁场远小于人工标准伤所产生的漏磁场,也小于表面粗糙度所产生的漏磁场.因此结论认为:用磁粉法和漏磁法探测疲劳裂纹时,需要特别谨慎.换言之,磁粉和漏磁两种方法不适合探测开裂缝隙很窄的疲劳裂纹.
部门归属	中国科学院金属研究所,沈阳,110016
关键词	环电流模型漏磁探伤磁粉探伤疲劳裂纹数值计算
主办者	中国机械工程学会;中国无损检测学会
语种	中文
文献类型	会议论文
条目标识符	http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/70511
专题	中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	蔡桂喜,董瑞琪. 用环电流模型对槽状缺陷漏磁场分布的数值计算——裂纹状缺陷磁粉和漏磁探伤能力的研究[C],2004.