| 电镜样品制备方法对非晶合金结构的影响 | |
| 孙兵兵; 王艳波; 文军; 杨海; 隋曼龄 | |
| 2006-08-26 | |
| Conference Name | 2006年全国电子显微学会议 |
| Source Publication | 电子显微学报 |
| Conference Date | 2006-08-26 |
| Conference Place | 沈阳 |
| Abstract | 非晶合金,特别是大块非晶合金,以其优异的性能而引起人们广泛的关注.通常情况下,人们普遍采用X射线衍射技术(XRD)来反映非晶合金的非晶态结构特征.然而当晶粒尺寸非常小时(如小于10nm),X射线衍射技术无法将非晶态和晶态严格地区分开.这样,透射电镜技术(TEM)或高分辨透射电镜技术(HRTEM)等直观的结构表征方法,就成为表征非晶合金真实结构不可或缺的技术手段.然而,在电镜样品制备的过程中,处于亚稳状态的非晶结构极易产生变化、引入结构假象,从而导致对结果的错误解读.有关电镜样品制备方法在非晶合金中引起的假象,还未引起人们足够的重视.为此,本文以三种非晶合金为例,结合HRTEM和高角环形扫描暗场像(HAADF-STEM)等表征手段,揭示了电镜样品制备方法对非晶合金结构的影响。 |
| description.department | 沈阳材料科学国家(联合)实验室,中国科学院金属研究所,辽宁,沈阳,110016 |
| Keyword | 非晶合金 合金结构 电镜样品 制备方法 非晶态结构 透射电镜 |
| Funding Organization | 中国物理学会 |
| Language | 中文 |
| Document Type | 会议论文 |
| Identifier | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/70515 |
| Collection | 中国科学院金属研究所 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 孙兵兵,王艳波,文军,等. 电镜样品制备方法对非晶合金结构的影响[C],2006. |
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