| 电镜样品制备方法对非晶合金结构的影响 |
| 孙兵兵; 王艳波; 文军; 杨海; 隋曼龄
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| 2006-08-26
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| 会议名称 | 2006年全国电子显微学会议
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| 会议录名称 | 电子显微学报
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| 会议日期 | 2006-08-26
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| 会议地点 | 沈阳
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| 摘要 | 非晶合金,特别是大块非晶合金,以其优异的性能而引起人们广泛的关注.通常情况下,人们普遍采用X射线衍射技术(XRD)来反映非晶合金的非晶态结构特征.然而当晶粒尺寸非常小时(如小于10nm),X射线衍射技术无法将非晶态和晶态严格地区分开.这样,透射电镜技术(TEM)或高分辨透射电镜技术(HRTEM)等直观的结构表征方法,就成为表征非晶合金真实结构不可或缺的技术手段.然而,在电镜样品制备的过程中,处于亚稳状态的非晶结构极易产生变化、引入结构假象,从而导致对结果的错误解读.有关电镜样品制备方法在非晶合金中引起的假象,还未引起人们足够的重视.为此,本文以三种非晶合金为例,结合HRTEM和高角环形扫描暗场像(HAADF-STEM)等表征手段,揭示了电镜样品制备方法对非晶合金结构的影响。 |
| 部门归属 | 沈阳材料科学国家(联合)实验室,中国科学院金属研究所,辽宁,沈阳,110016
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| 关键词 | 非晶合金
合金结构
电镜样品
制备方法
非晶态结构
透射电镜
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| 主办者 | 中国物理学会
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| 语种 | 中文
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| 文献类型 | 会议论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/70515
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
孙兵兵,王艳波,文军,等. 电镜样品制备方法对非晶合金结构的影响[C],2006.
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