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题名: 无衍射单晶硅基板-X射线衍射法快速鉴别安全套表面润滑剂中的滑石粉
作者: 赵景红;  郭雅琳;  宋小平;  张宁
出版日期: 2012-10-31
会议日期: 2012-10-31
摘要: 本文采用无衍射单晶硅基板-X射线衍射法快速鉴别安全套表面润滑剂中的微量滑石粉,将安全套表面润滑剂均匀涂于无衍射单晶硅基板表面,在X射线衍射仪上测定.测定条件为:采用功率为2 kw的封闭式Cu靶X光管,管电压为40 kV,电流40 mA,扫描范围为2θ=5~60°,扫描方式为步进扫描,扫描间隔为0.02°,停留时间为1 s.在上述条件下,测定了三个生产厂家的样品,实现了对安全套表面润滑剂中的微量滑石粉的快速鉴别.
会议名称: 2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)
会议文集: 2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)论文集
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赵景红,郭雅琳,宋小平,等. 无衍射单晶硅基板-x射线衍射法快速鉴别安全套表面润滑剂中的滑石粉[C]. 2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(ccatm2012)论文集.2012.
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