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负向脉宽对Mg-Gd-Y合金微弧氧化膜致密性的影响
郭泉忠; 杜克勤; 朱秀荣; 王荣; 徐永东; 王福会
2013-03-15
Source Publication腐蚀科学与防护技术
Issue2Pages:89-94
Abstract通过在特定的电参数下改变负向脉宽,在Mg-Gd-Y合金表面制备了不同的微弧氧化膜。利用扫描电镜和电化学方法研究氧化膜的显微组织和电化学行为。结果表明:负向脉宽对于微弧氧化膜的致密性具有重要影响,适当的负向脉宽可以有效地提高膜层致密性,而稍低或者过高的负向脉宽都会降低氧化膜的致密性,从而降低涂层的耐腐蚀性。
description.department中国科学院金属研究所金属腐蚀与防护国家重点实验室 ; 中国兵器科学研究院宁波分院
Keyword镁合金 微弧氧化 负向脉宽 电化学阻抗谱 致密性
Language中文
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.imr.ac.cn/handle/321006/71808
Collection中国科学院金属研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
郭泉忠,杜克勤,朱秀荣,等. 负向脉宽对Mg-Gd-Y合金微弧氧化膜致密性的影响[J]. 腐蚀科学与防护技术,2013(2):89-94.
APA 郭泉忠,杜克勤,朱秀荣,王荣,徐永东,&王福会.(2013).负向脉宽对Mg-Gd-Y合金微弧氧化膜致密性的影响.腐蚀科学与防护技术(2),89-94.
MLA 郭泉忠,et al."负向脉宽对Mg-Gd-Y合金微弧氧化膜致密性的影响".腐蚀科学与防护技术 .2(2013):89-94.
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