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Laves相Cr_2 Nb中棱锥面层错结构的像差矫正电子显微学分析
章炜; 杜奎; 盛立远; 叶恒强
2013-08-15
发表期刊电子显微学报
期号4页码:279-283
摘要本文利用像差矫正透射电子显微镜,在具有C14结构的Laves相Cr2Nb中观察到两种新型的(1101)棱锥面层错结构,并对这些层错的精细构型进行了分析。结果表明:这两种棱锥面层错具有形状特异的结构单元,同时原有的Laves相中的原子配位数也发生改变,在其中一种层错内还形成了拓扑密堆相中不常见的13配位数。这两种新的堆垛方式丰富了对拓扑密堆相中缺陷结构的认识。
部门归属中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室 ; 清华大学北京国家电镜中心 ; 北京大学深圳研究院
关键词Laves相 金属间化合物 Cr2nb 层错 像差矫正高分辨透射电镜
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/71886
专题中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
章炜,杜奎,盛立远,等. Laves相Cr_2 Nb中棱锥面层错结构的像差矫正电子显微学分析[J]. 电子显微学报,2013(4):279-283.
APA 章炜,杜奎,盛立远,&叶恒强.(2013).Laves相Cr_2 Nb中棱锥面层错结构的像差矫正电子显微学分析.电子显微学报(4),279-283.
MLA 章炜,et al."Laves相Cr_2 Nb中棱锥面层错结构的像差矫正电子显微学分析".电子显微学报 .4(2013):279-283.
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