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IMR OpenIR  > 中国科学院金属研究所  > 会议论文

题名: 印刷电路板某器件引脚断裂失效分析
作者: 付长明;  董晨;  屈伸;  田继丰;  苏会和;  张哲峰
出版日期: 2013
会议日期: 2013
摘要: 某公司在对若干印刷电路板做扫频振动试验后,检查发现某些印刷电路板某器件引脚出现不同程度的开裂。通过对引脚断口的宏观检验、体视镜放大宏观检验、扫描电镜检验和金相检验,确定了引脚断裂性质和原因。结果表明:引脚断裂属于疲劳断裂,导致引脚疲劳断裂的主要原因是扫频振动试验提供了促使引脚萌生疲劳裂纹并进行扩展的较大交变应力,在引脚横截面最小的部位引起开裂甚至断裂。建议在其引脚处涂抹硅胶,以减少引脚的变形量,大幅度降低引脚所受的工作应力,从而提高引脚抗疲劳断裂的能力。
会议名称: 2013年全国失效分析学术会议
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付长明,董晨,屈伸,等. 印刷电路板某器件引脚断裂失效分析[C].2013,180-181-182-183-184-185.
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