| 测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法 | |
| 李阁平; 张利峰; 李明远; 王练; 彭胜; 吴松全; 高博; 顾恒飞; 庞丽侠 | |
| 2016-08-17 | |
| 专利权人 | 李阁平 ; 张利峰 ; 李明远 ; 王练 ; 彭胜 ; 吴松全 ; 高博 ; 顾恒飞 ; 庞丽侠 |
| 公开日期 | 2016-08-17 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所 |
| 申请日期 | 2013-10-29 |
| 语种 | 中文 |
| 申请号 | 201310525910.7 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/78806 |
| 专题 | 中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李阁平,张利峰,李明远,等. 测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法[P]. 2016-08-17. |
| 条目包含的文件 | 条目无相关文件。 | |||||
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