| 力电热多场耦合作用下微电子产品可靠性测试平台 | |
| 崔学顺; 郭敬东; 祝清省; 刘志权; 吴迪; 张磊; 曹丽华 | |
| 2017-06-23 | |
| 专利权人 | 中国科学院金属研究所 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 专利号 | 201210563644.2 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/79874 |
| 专题 | 中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 崔学顺,郭敬东,祝清省,等. 力电热多场耦合作用下微电子产品可靠性测试平台. 201210563644.2[P]. 2017-06-23. |
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