| 剥离涂层下缝隙内电位二维分布测量装置 | |
| 许进; 孙成; 于长坤; 吴堂清; 闫茂成; 龙康 | |
| 2017-08-11 | |
| 专利权人 | 中国科学院金属研究所 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 专利号 | 201310152359.6 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/79879 |
| 专题 | 中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 许进,孙成,于长坤,等. 剥离涂层下缝隙内电位二维分布测量装置. 201310152359.6[P]. 2017-08-11. |
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