| 一种广泛适用于微型样品的单剪切性能测试装置 | |
| 李阁平; 袁福森; 储林华; 罗倩倩; 王练; 高博; 李晓珊; 顾恒飞; 刘承泽; 韩福洲 | |
| 2017-12-22 | |
| 专利权人 | 中国科学院金属研究所 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 专利号 | 201720296551.6 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/79943 |
| 专题 | 中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李阁平,袁福森,储林华,等. 一种广泛适用于微型样品的单剪切性能测试装置. 201720296551.6[P]. 2017-12-22. |
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