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一种高精度低温相变电阻测试设备 专利
申请日期: 2003-08-06, 公开日期: 2013-06-19
发明人:  卢柯 王群 唐凤军 周飞 张星航
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一种高精度低温相变电阻测试方法 专利
申请日期: 2003-08-06, 公开日期: 2013-06-19
发明人:  卢柯 王群 唐凤军 周飞 张星航
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一种高精度高低温相变电阻测试设备 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2000-04-19, 公开日期: 2000-04-19
发明人:  卢柯, 王群, 唐凤军, 周飞 and 张星航
收藏  |  浏览/下载:51/0  |  提交时间:2013/06/06
一种高精度高低温相变电阻测试方法 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2000-04-19, 公开日期: 2000-04-19
发明人:  卢柯, 王群, 唐凤军, 周飞 and 张星航
收藏  |  浏览/下载:76/0  |  提交时间:2013/06/06