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电镀纳米镍缺陷的正电子研究 期刊论文
核技术, 1998, 期号: 4, 页码: 213-216
作者:  吴秋允,初业隆,熊良铖,孙秀魁,胡壮麒
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正电子湮没  电镀纳米镍  微观缺陷