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薄膜厚度的电子探针测定 期刊论文
电子显微学报, 1992, 期号: 1, 页码: 26-32
作者:  郭延风;  徐乐英;  杨淑华
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薄膜厚度:4816  电子探针分析:4651  加速电压:3493  归一化:3199  化学分析法:3047  激发深度:2768  质量厚度:2290  测定:1914  公式计算:1851  重量法:1851  
α-Ti的形变和断裂过程中的声发射 期刊论文
金属学报, 1982, 期号: 3, 页码: 272-280+387
作者:  朱祖铭,穆在勤,王双全,杨淑华,尹花子
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断裂过程:5545  声发射能量:4251  塑性材料:3650  形变能:3493  总能量:3118  应力场:2792  声发射源:1758  塑性变形:1360  能量曲线:1303  关系曲线:1214  
多晶体α-Ti中裂纹扩展的动态观察 期刊论文
科学通报, 1981, 期号: 22, 页码: 1356-1358
作者:  徐永波,穆在勤,刘民治,杨淑华
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裂纹扩展路径:9085  金属材料:2672  裂纹形核:1780  扩展过程:1591  多晶体:1555  扫描电镜:1017  试验方法:768  形变过程:685  Α-ti:269  显微孔洞:149