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高密度脉冲电流对Cu单晶体驻留滑移带的影响 期刊论文
金属学报, 2000, 期号: 12, 页码: 1237-1239
作者:  肖素红,周亦胄,吴世丁,姚戈,李守新,周本濂 ,周本濂
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驻留滑移带  脉冲电流  热压应力