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用正电子湮没技术研究不同化学成分的二元TiAl合金中的微观缺陷 期刊论文
核技术, 2002, 期号: 8, 页码: 573-577
作者:  邓文,钟夏平,黄宇阳,熊良钺,曹名洲,龙期威
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正电子寿命  电子密度  微观缺陷  力学性能