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Quantitative comparison of image contrast and pattern between experimental and simulated high-resolution transmission electron micrographs 期刊论文
Ultramicroscopy, 2007, 卷号: 107, 期号: 4-5, 页码: 281-292
作者:  K. Du;  K. von Hochmeister;  F. Phillipp
收藏  |  浏览/下载：147/0  |  提交时间：2012/04/13
High-resolution Transmission Electron Microscopy  Image Simulation  Atomic-resolution  Noise Transfer  Ccd Cameras  Hrem  Scattering  Microscope  Diffraction  Holography  Package  Signal