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Structural and Electronic Properties of BaO/MgO(001)-type Interface Studied via Aberration-corrected Transmission Electron Microscopy and First-principles Calculations 期刊论文
Journal of Materials Science & Technology, 2015, 卷号: 31, 期号: 2, 页码: 205-209
作者:  L.;  Mi Deng, S. B.;  Chen, D.;  Wang, Y. M.;  Ma, X. L.
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Thin Films  Interface  Transmission Electron Microscopy  First-principles Calculations  Thin-films  Mgo  Deposition  Growth  Oxygen