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交流电诱发铜互联体的热疲劳失效行为及微观分析 期刊论文
中国集成电路, 2007, 期号: 3, 页码: 50-53
作者:  张广平;  R.Moenig;  Y.B.Park;  C.A.Volkert
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铜互联体  热疲劳  可靠性  交流电