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复合材料中β-SiC内部裂纹的TEM研究 期刊论文
电子显微学报, 1998, 期号: 5, 页码: 25-26
作者:  孟祥敏,Ｃ．Ｓ．ＬＥＥ,ＲｏｂｅｒｔＫ．Ｙ．ＬＩ,吕毓雄,戴吉岩,李斗星
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复合材料:5895  内部裂纹:4794  Β-sic:4033  Tem研究:2994  脆性材料:2691  微裂纹:2009  半导体超晶格:1278  裂纹尖端:1271  滑移面:1154  无位错区:1075