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薄膜厚度的电子探针测定 期刊论文
电子显微学报, 1992, 期号: 1, 页码: 26-32
作者:  郭延风;  徐乐英;  杨淑华
收藏  |  浏览/下载：64/0  |  提交时间：2012/04/12
薄膜厚度:4816  电子探针分析:4651  加速电压:3493  归一化:3199  化学分析法:3047  激发深度:2768  质量厚度:2290  测定:1914  公式计算:1851  重量法:1851