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硅薄膜中的结构缺陷研究进展 期刊论文
功能材料, 2010, 期号: S1, 页码: 1-5
作者:  赵彦辉;  肖金泉;  黄荣芳;  闻火;  闻立时
收藏  |  浏览/下载:110/0  |  提交时间:2012/04/12
硅薄膜  缺陷  缺陷研究方法  转换效率