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Atomic-scale mapping of dipole frustration at 90 degrees charged domain walls in ferroelectric PbTiO3 films 期刊论文
Scientific Reports, 2014, 卷号: 4
作者:  Y. L. Tang;  Y. L. Zhu;  Y. J. Wang;  W. Y. Wang;  Y. B. Xu;  W. J. Ren;  Z. D. Zhang;  X. L. Ma
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Transmission Electron-microscopy  Thin-films  Force Microscopy  Image-analysis  Polarization  Strain  180-degrees  Conduction  Thickness  Crystals