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Bl-AlN/TiN(001)界面结构与电子特性 期刊论文
电子显微学报, 2005, 期号: 4, 页码: 349
作者:  陈东,马秀良
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Aln:6254  Tin:5397  界面结构:3620  电子特性:2904  超晶格:2200  高分辨像:1544  投影态密度:903  第一原理:870  赝势方法:857  平面波:814  
Thickness-dependent structural transformation in the AlN film 期刊论文
Acta Materialia, 2005, 卷号: 53, 期号: 19, 页码: 5223-5227
作者:  D. Chen;  X. L. Ma;  Y. M. Wang
收藏  |  浏览/下载：83/0  |  提交时间：2012/04/14
Epitaxially Stabilized  Aln Structural Transformation  Critical  Thickness  Chemical Potential Concepts  Bond-valence Parameters  Aln/tin  Superlattices  Aluminum Nitride  Atomistic Simulations  Molecular-dynamics  Ionic-crystals  Cubic Aln  Density  Phase