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Cubic SiC for trace heavy metal ion analysis 期刊论文
Electrochemistry Communications, 2014, 卷号: 41, 页码: 5-7
作者:  H. Zhuang;  C. Wang;  N. Huang;  X. Jiang
收藏  |  浏览/下载：108/0  |  提交时间：2014/07/03
Sic  Asv  Heavy Metal Ion Analysis  Diamond Thin-film  Organic Functionalization  Heteroepitaxial Growth  Stripping Voltammetry  Electrodes  Surfaces