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On the benefit of aberration-corrected HAADF-STEM for strain determination and its application to tailoring ferroelectric domain patterns 期刊论文
ULTRAMICROSCOPY, 2016, 卷号: 160, 页码: 57-63
作者:  Tang, Y. L.;  Zhu, Y. L.;  Man, X. L.;  xlma@imr.ac.cn
收藏  |  浏览/下载：149/0  |  提交时间：2016/04/21
Aberration-corrected Scanning Transmission Electron Microscopy  High Angle Annular Dark Field (Haadf)  Strain Determination  Geometrical Phase Analysis (Gpa)  Ferroelectric Domain Structure  Pbtio3 Films