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Unveiling the pinning behavior of charged domain walls in BiFeO3 thin films via vacancy defects 期刊论文
ACTA MATERIALIA, 2020, 卷号: 186, 页码: 68-76
作者:  Geng, W. R.;  Tian, X. H.;  Jiang, Y. X.;  Zhu, Y. L.;  Tang, Y. L.;  Wang, Y. J.;  Zou, M. J.;  Feng, Y. P.;  Wu, B.;  Hu, W. T.;  Ma, X. L.
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BiFeO3 films  Oxygen vacancy plates  Charged domain wall pinning  Aberration-corrected scanning transmission electron microscopies  Phase field simulations