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Viscoplastic creep and microstructure evolution of Sn-based lead-free solders at low strain
期刊论文
ELSEVIER SCIENCE SA, 2017, 卷号: 701, 页码: 187-195
作者:
Zhang, Q. K.
;
Hu, F. Q.
;
Song, Z. L.
;
Zhang, Z. F.
;
Zhang, QK (reprint author), Chinese Acad Sci, Ningbo Inst Mat Technol & Engn, Ningbo 315201, Zhejiang, Peoples R China.
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提交时间:2018/01/10
Viscoplastic Creep
In-situ Ebsd
Polygonization
Grain Boundary Sliding
Strain Concentration
In situ tensile creep behaviors of Sn-4Ag/Cu solder joints revealed by electron backscatter diffraction
期刊论文
Scripta Materialia, 2012, 卷号: 67, 期号: 3, 页码: 289-292
作者:
Q. K. Zhang
;
Z. F. Zhang
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提交时间:2013/02/05
Sn-4ag Solder
In Situ Tensile Creep
Electron Backscatter Diffraction
(Ebsd)
Polygonization
Grains Subdivision
Sn-ag
Stress-relaxation
Fracture-behavior
Thermal Fatigue
Deformation
Grain
Recrystallization
Microstructure
Orientation
Evolution