IMR OpenIR

Browse/Search Results:  1-2 of 2 Help

Filters    
Selected(0)Clear Items/Page:    Sort:
精确测定材料中偏聚第二相分布均匀性的方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 201410428916.7, 申请日期: 2018-09-04,
Authors:  李阁平;  张利峰;  李明远;  王练;  彭胜;  吴松全;  高博;  顾恒飞;  庞丽侠
Favorite  |  View/Download:6/0  |  Submit date:2020/01/13
测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2016-08-17, 公开日期: 2016-08-17
Authors:  李阁平;  张利峰;  李明远;  王练;  彭胜;  吴松全;  高博;  顾恒飞;  庞丽侠
Favorite  |  View/Download:40/0  |  Submit date:2017/08/22