| 纳米孪晶纯铜的强度和导电性研究 | |
| Alternative Title | A Study on Ultrahigh Strength and High Electrical Conductivity in Copper |
| 卢柯 | |
| 2004 | |
| Source Publication | 中国科学院院刊
 |
| ISSN | 1000-3045 |
| Volume | 19.0Issue:005Pages:352-354 |
| Abstract | 强度和导电性是金属材料两个至关重要的性能，但往往顾此失彼，不可兼得。本研究提出利用纳米尺寸孪晶实现金属强化，以期获得高强度和高导电性。实验采用脉冲电解沉积技术制备出具有高密度纳米尺寸孪晶的纯铜薄膜，其拉伸强度达1068MPa，是普通纯铜的10倍以上，并且室温电导率与无氧高导铜相当(97％IACS)。系统研究了孪晶片层厚度对样品性能的影响。 |
| Keyword | 孪晶 纯铜 沉积技术 金属材料 高导电性 室温电导率 高强度 纳米尺寸 拉伸强度 研究 |
| Indexed By | CSCD |
| Language | 中文 |
| CSCD ID | CSCD:1882108 |
| Citation statistics | |
| Document Type | 期刊论文 |
| Identifier | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/143593 |
| Collection | 中国科学院金属研究所 |
| Affiliation | 中国科学院金属研究所 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 卢柯. 纳米孪晶纯铜的强度和导电性研究[J]. 中国科学院院刊,2004,19.0(005):352-354. |
| APA | 卢柯.(2004).纳米孪晶纯铜的强度和导电性研究.中国科学院院刊,19.0(005),352-354. |
| MLA | 卢柯."纳米孪晶纯铜的强度和导电性研究".中国科学院院刊 19.0.005(2004):352-354. |
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