低辐射薄膜TiO2—Ag—TiO2—SiO的纳米尺度显微结构

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	低辐射薄膜TiO2—Ag—TiO2—SiO的纳米尺度显微结构
	詹倩; 于荣; 贺连龙; 李斗星; 郭晓楠
	2001
发表期刊	金属学报
ISSN	0412-1961
卷号	37.0 期号:004 页码:337-339
摘要	成功地制务了TiO2-Ag-TiO2-SiO超薄多层膜的截面样品，并对其微观结构进行TEM，HREM及纳米束EDS分析，结果表明，薄膜各层厚度均匀，界面明锐、光滑。Ag层由纳米晶组成，而TiO2和SiO层为非晶。Ag在膜层中没有扩散或聚团，这也正是保证整个薄膜性能指标的一一个重要因素。
关键词	低辐射薄膜微观结构 HREM 纳米束分析
收录类别	CSCD
语种	中文
CSCD记录号	CSCD:675805
引用统计	被引频次：7[CSCD] [CSCD记录]
文献类型	期刊论文
条目标识符	http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/151342
专题	中国科学院金属研究所
作者单位	中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	詹倩,于荣,贺连龙,等. 低辐射薄膜TiO2—Ag—TiO2—SiO的纳米尺度显微结构[J]. 金属学报,2001,37.0(004):337-339.
APA	詹倩,于荣,贺连龙,李斗星,&郭晓楠.(2001).低辐射薄膜TiO2—Ag—TiO2—SiO的纳米尺度显微结构.金属学报,37.0(004),337-339.
MLA	詹倩,et al."低辐射薄膜TiO2—Ag—TiO2—SiO的纳米尺度显微结构".金属学报 37.0.004(2001):337-339.