| 低辐射薄膜TiO_2-Ag-TiO_2-SiO的纳米尺度显微结构 |
| 詹倩,于荣,贺连龙,李斗星,郭晓楠
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| 2001-04-28
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| 发表期刊 | 金属学报
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| 期号 | 4页码:337-339 |
| 摘要 | 成功地制备了 ＴｉＯ２－Ａｇ－ＴｉＯ２－ＳｉＯ超薄多层膜的截面样品，并对其微观结构进行 ＴＥＭ， ＨＲＥＭ及纳米束 ＥＤＳ分析结果表明，薄膜各层厚度均匀，界面明锐、光滑 Ａｇ层由纳米晶组成，而 ＴｉＯ２和 ＳｉＯ层为非晶 Ａｇ在膜层中没有扩散或聚团，这也正是保证整个薄膜性能指标的一个重要因素 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室!沈阳110016,中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室!沈阳110016,中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室!沈阳110016,中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室!沈阳110016,上海交通大学材料学院!上海200030
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| 关键词 | 低辐射薄膜
微观结构
Hrem
纳米束分析
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/26988
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
詹倩,于荣,贺连龙,李斗星,郭晓楠. 低辐射薄膜TiO_2-Ag-TiO_2-SiO的纳米尺度显微结构[J]. 金属学报,2001(4):337-339.
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| APA |
詹倩,于荣,贺连龙,李斗星,郭晓楠.(2001).低辐射薄膜TiO_2-Ag-TiO_2-SiO的纳米尺度显微结构.金属学报(4),337-339.
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| MLA |
詹倩,于荣,贺连龙,李斗星,郭晓楠."低辐射薄膜TiO_2-Ag-TiO_2-SiO的纳米尺度显微结构".金属学报 .4(2001):337-339.
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