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ZnO:Al薄膜的组织结构与性能
裴志亮,谭明晖,杜昊,陈猛,孙超,黄荣芳,闻立时
2000-10-25
发表期刊材料研究学报
期号5页码:538-542
摘要用直流磁控反应溅射合金靶制备了ZnO薄膜,研究了衬底温度和退火温度对薄膜的结构及电学和光学性能的影响.衬底温度升高能改善薄膜的电学特性,其原因是薄膜晶粒尺寸的增大温度升高导致薄膜基本光学吸收边向短波移动,但对高透射区(450~850nm)的透射率影响不大.
部门归属中国科学院金属研究所!沈阳市110015,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所
关键词Zno 薄膜 温度 光学吸收边 透射率
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27158
专题中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
裴志亮,谭明晖,杜昊,陈猛,孙超,黄荣芳,闻立时. ZnO:Al薄膜的组织结构与性能[J]. 材料研究学报,2000(5):538-542.
APA 裴志亮,谭明晖,杜昊,陈猛,孙超,黄荣芳,闻立时.(2000).ZnO:Al薄膜的组织结构与性能.材料研究学报(5),538-542.
MLA 裴志亮,谭明晖,杜昊,陈猛,孙超,黄荣芳,闻立时."ZnO:Al薄膜的组织结构与性能".材料研究学报 .5(2000):538-542.
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