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突变型PTC元件电阻温度系数的测试
张喜哲,何青,肖连芳
1994-12-28
发表期刊电子元件与材料
期号6页码:27-30
摘要目前突变型PTC元件电阻温度系数的测量方法各种各样,因此测试结果缺乏唯一性和可比性。根据国际和国家标准对电阻温度系数的定义,结合PTC材料的生产和使用的实际情况,提出了一种较为可行的测试方法。
部门归属中科院金属研究所,深圳金科公司
关键词突变型ptc元件 电阻温度系数 测试方法
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28297
专题中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
张喜哲,何青,肖连芳. 突变型PTC元件电阻温度系数的测试[J]. 电子元件与材料,1994(6):27-30.
APA 张喜哲,何青,肖连芳.(1994).突变型PTC元件电阻温度系数的测试.电子元件与材料(6),27-30.
MLA 张喜哲,何青,肖连芳."突变型PTC元件电阻温度系数的测试".电子元件与材料 .6(1994):27-30.
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