| 辉光放电发射光谱逐层定量分析 |
| 张洪度,于波,任建世,郜长福,徐升美,张功杼
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| 1985-12-27
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| 发表期刊 | 光谱学与光谱分析
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| 期号 | 6页码:40 |
| 摘要 | <正>Grimm辉光放电灯已被用于发射光谱逐层分析。由于样品成份随深度急剧变化,很难找到成份与其相近的标准来标定元素含量,有时只给出了定性结果。本文提出了一种新的标定方法。我们用辉光放电和原子发射光谱的基本理论分析了辉光灯中的溅射和激发过程。在固定放电电压和气压的条件下,得到了一个新的标定公式: I=K(gAC) 式中I、C、g、A分别是分析元素谱线强度,溅射表面该元素的含量,溅射率和放电电流,K是个与其它元素的存在无关的比例系数。g和A都会因样品成份不同而有差别,这说明它们代表了样品中的基体和共存元素影响。但是它们可以在实验中测量。这样就可以用纯金属或不同基体的合金作为标准来标定被测样品溅射表面的元素含量,进行逐层定量分析。当用摄谱法时,相应的公式为: S=γlog(gACt)+k 式中S,γ,t分别代表谱线黑度,干板反衬度和暴光时间。 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所
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| 关键词 | 辉光放电灯:5624
原子发射光谱:5494
标定方法:2552
溅射率:2511
理论分析:2312
激发过程:2175
谱线强度:2065
谱线黑度:1964
比例系数:1931
反衬度:1851
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29646
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
张洪度,于波,任建世,郜长福,徐升美,张功杼. 辉光放电发射光谱逐层定量分析[J]. 光谱学与光谱分析,1985(6):40.
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| APA |
张洪度,于波,任建世,郜长福,徐升美,张功杼.(1985).辉光放电发射光谱逐层定量分析.光谱学与光谱分析(6),40.
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| MLA |
张洪度,于波,任建世,郜长福,徐升美,张功杼."辉光放电发射光谱逐层定量分析".光谱学与光谱分析 .6(1985):40.
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