| 俄歇能谱的基本原理及应用 |
| 任大刚
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| 1980-08-28
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| 发表期刊 | 稀有金属
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| 期号 | 4页码:61-66 |
| 摘要 | <正> 最近十年来,固体表面分析技术得到迅速发展。这一方面是由于六十年代以来,超高真空技术的重大进展,比较容易获得10~(10)托的超高真空,有可能制备固体的“清洁”表面。从七十年代以来,商品能谱仪器开始生产,为表面分析提供了有力的工具。另一方面,固体表面分析技术与现代科 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所,
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| 关键词 | 俄歇能谱:5768
俄歇电子能谱:3598
表面分析技术:3112
电子伏:2943
基本原理:2674
电子束:2641
固体表面:2533
晶界偏析:2321
六十年代:2199
表面元素:2156
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/30017
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
任大刚. 俄歇能谱的基本原理及应用[J]. 稀有金属,1980(4):61-66.
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| APA |
任大刚.(1980).俄歇能谱的基本原理及应用.稀有金属(4),61-66.
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| MLA |
任大刚."俄歇能谱的基本原理及应用".稀有金属 .4(1980):61-66.
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