IMR OpenIR
Structure at the crack tip in GaAs
Z. C. Li; L. Liu; X. Wu; L. L. He; Y. B. Xu
2003
发表期刊Philosophical Magazine Letters
ISSN0950-0839
卷号83期号:4页码:217-221
摘要Cracks induced by low-load indentation of a GaAs single crystal have been investigated by high-resolution electron microscopy. The observations reveal dislocation generation, lattice distortion, and a transformation from a crystalline to a disordered structure, leading to the occurrence of an amorphous band in front of the crack tip.
部门归属chinese acad sci, inst met res, shenyang natl lab mat sci, shenyang 110016, peoples r china. wayne state univ, dept mech engn, detroit, mi 48202 usa.;li, zc (reprint author), chinese acad sci, inst met res, shenyang natl lab mat sci, shenyang 110016, peoples r china
关键词Transmission Electron-microscopy Single-crystal Silicon Dislocations Fracture
URL查看原文
WOS记录号WOS:000181838200001
引用统计
被引频次:3[WOS]   [WOS记录]     [WOS相关记录]
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/35908
专题中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
Z. C. Li,L. Liu,X. Wu,et al. Structure at the crack tip in GaAs[J]. Philosophical Magazine Letters,2003,83(4):217-221.
APA Z. C. Li,L. Liu,X. Wu,L. L. He,&Y. B. Xu.(2003).Structure at the crack tip in GaAs.Philosophical Magazine Letters,83(4),217-221.
MLA Z. C. Li,et al."Structure at the crack tip in GaAs".Philosophical Magazine Letters 83.4(2003):217-221.
条目包含的文件
条目无相关文件。
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[Z. C. Li]的文章
[L. Liu]的文章
[X. Wu]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[Z. C. Li]的文章
[L. Liu]的文章
[X. Wu]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[Z. C. Li]的文章
[L. Liu]的文章
[X. Wu]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。