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透射电镜用金属粉体薄膜的制备方法
黄建宇, 何安强, 吴玉琨, 胡魁毅 and 孟祥敏
1994-03-09
专利权人中国科学院金属研究所
公开日期1994-03-09
授权国家中国
专利类型发明专利
摘要本方法为用透射电镜分析金属粉体样品的制备方法。具体采用密孔金属网支撑固化金属粉体,再用离子束减薄至100nm以下或20nm以下的要求厚度,在上下均为贴有硫酸纸的玻璃片上放入树脂与粉体混合物,中间放入金属网,在60℃固化10小时,然后去掉玻璃片,用砂纸磨至金属网露出,再用离子束减薄至穿孔为止,即为薄膜样品,此种方法优点:可制作100nm以下厚度,简便易行,不需价格昂贵设备,耗能少,适用材料广泛。
语种中文
专利状态公开
申请号CN1083591
文献类型专利
条目标识符http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/66368
专题中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
黄建宇, 何安强, 吴玉琨, 胡魁毅 and 孟祥敏. 透射电镜用金属粉体薄膜的制备方法[P]. 1994-03-09.
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