| 一种高精度高低温相变电阻测试方法 | |
| 卢柯, 王群, 唐凤军, 周飞 and 张星航 | |
| 2000-04-19 | |
| 专利权人 | 中国科学院金属研究所 |
| 公开日期 | 2000-04-19 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 摘要 | 一种高精度高低温相变电阻测试方法,包括样品制备,电阻、温度测量,数据处理,图形显示及打印步骤,其特征在于：电阻测量采用双线探针法,即将样品搭接于带两根平行导线的电阻探头上。本发明具有更高的精度和稳定性。 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 公开 |
| 申请号 | CN1250879 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/66838 |
| 专题 | 中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 卢柯, 王群, 唐凤军, 周飞 and 张星航. 一种高精度高低温相变电阻测试方法[P]. 2000-04-19. |
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