| 一种透射电镜用薄膜样品的制备方法 |
| 于洪波, 刘实, 郑华, 马爱华, 王隆保 and 戎利建
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| 2005-07-20
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| 专利权人 | 中国科学院金属研究所
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| 公开日期 | 2005-07-20
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| 授权国家 | 中国
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| 专利类型 | 发明专利
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| 摘要 | 本发明提供一种透射电镜用薄膜样品的制备方法,其特征在于：采用磁控溅射镀膜方法,镀膜的衬料是铜网。本发明提供的透射电镜用薄膜样品的制备方法的优点在于：简化了电镜薄膜样品的制备工艺,避免了薄膜电镜样品制备过程中引入一些假象的问题。 |
| 语种 | 中文
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| 专利状态 | 公开
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| 申请号 | CN1641067
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/67592
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
于洪波, 刘实, 郑华, 马爱华, 王隆保 and 戎利建. 一种透射电镜用薄膜样品的制备方法[P]. 2005-07-20.
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