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题名: 用EIS测试紫外光对涂层的老化作用
作者: 徐永祥;  严川伟;  高延敏;  曹楚南
出版日期: 2002-10-1
会议日期: 2002-10-01
摘要: 用人工加速的方法研究了紫外光对涂层的影响.用石英晶体微天平(QCM)测试发现老化后涂层对水和SO<,2>的吸附率明显增大.电化学阻抗(EIS)测定发现孔隙率随光照射时间增加而增大,涂层电阻随光照时间增加而减小.傅利叶变换红外光谱(FTIR)分析表明,光照使涂层分子碳链断裂,醇酸涂层发生在芳香酯的C-O键,聚氨酯涂层发生在芳香酯的C-O键和氨酯键C-N,同时有一些亲水基团生成.用扫描电子显微镜(SEM)观察涂层表面产生了许多孔穴.涂层吸水率增加是由亲水基团增加和孔隙增加共同引起的,但孔隙增加的贡献更大.而涂层对SO<,2>吸附率的增加是由α-H过氧化物和孔隙的增加共同引起的,α-H过氧化物的增加的贡献更大.
会议名称: 全国腐蚀电化学及测试方法专业委员会2002年学术交流会
会议文集: 全国腐蚀电化学及测试方法专业委员会2002年学术交流会论文集
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徐永祥,严川伟,高延敏,等. 用eis测试紫外光对涂层的老化作用[C]. 全国腐蚀电化学及测试方法专业委员会2002年学术交流会论文集.北京.中国腐蚀与防护学会.2002.
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