| 用EIS测试紫外光对涂层的老化作用 |
| 徐永祥; 严川伟; 高延敏; 曹楚南
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| 2002-10-01
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会议名称 | 全国腐蚀电化学及测试方法专业委员会2002年学术交流会
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会议录名称 | 全国腐蚀电化学及测试方法专业委员会2002年学术交流会论文集
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会议日期 | 2002-10-01
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会议地点 | 徐州
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出版地 | 北京
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出版者 | 中国腐蚀与防护学会
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摘要 | 用人工加速的方法研究了紫外光对涂层的影响.用石英晶体微天平(QCM)测试发现老化后涂层对水和SO<,2>的吸附率明显增大.电化学阻抗(EIS)测定发现孔隙率随光照射时间增加而增大,涂层电阻随光照时间增加而减小.傅利叶变换红外光谱(FTIR)分析表明,光照使涂层分子碳链断裂,醇酸涂层发生在芳香酯的C-O键,聚氨酯涂层发生在芳香酯的C-O键和氨酯键C-N,同时有一些亲水基团生成.用扫描电子显微镜(SEM)观察涂层表面产生了许多孔穴.涂层吸水率增加是由亲水基团增加和孔隙增加共同引起的,但孔隙增加的贡献更大.而涂层对SO<,2>吸附率的增加是由α-H过氧化物和孔隙的增加共同引起的,α-H过氧化物的增加的贡献更大. |
部门归属 | 中国科学院金属研究所;金属腐蚀与防护国家重点实验室(沈阳)
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关键词 | 紫外光
涂层老化
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主办者 | 中国腐蚀与防护学会
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语种 | 中文
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文献类型 | 会议论文
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条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/69982
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专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式 GB/T 7714 |
徐永祥,严川伟,高延敏,等. 用EIS测试紫外光对涂层的老化作用[C]. 北京:中国腐蚀与防护学会,2002.
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