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用EIS测试紫外光对涂层的老化作用
徐永祥; 严川伟; 高延敏; 曹楚南
2002-10-01
会议名称全国腐蚀电化学及测试方法专业委员会2002年学术交流会
会议录名称全国腐蚀电化学及测试方法专业委员会2002年学术交流会论文集
会议日期2002-10-01
会议地点徐州
出版地北京
出版者中国腐蚀与防护学会
摘要用人工加速的方法研究了紫外光对涂层的影响.用石英晶体微天平(QCM)测试发现老化后涂层对水和SO<,2>的吸附率明显增大.电化学阻抗(EIS)测定发现孔隙率随光照射时间增加而增大,涂层电阻随光照时间增加而减小.傅利叶变换红外光谱(FTIR)分析表明,光照使涂层分子碳链断裂,醇酸涂层发生在芳香酯的C-O键,聚氨酯涂层发生在芳香酯的C-O键和氨酯键C-N,同时有一些亲水基团生成.用扫描电子显微镜(SEM)观察涂层表面产生了许多孔穴.涂层吸水率增加是由亲水基团增加和孔隙增加共同引起的,但孔隙增加的贡献更大.而涂层对SO<,2>吸附率的增加是由α-H过氧化物和孔隙的增加共同引起的,α-H过氧化物的增加的贡献更大.
部门归属中国科学院金属研究所;金属腐蚀与防护国家重点实验室(沈阳)
关键词紫外光 涂层老化
主办者中国腐蚀与防护学会
语种中文
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/69982
专题中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
徐永祥,严川伟,高延敏,等. 用EIS测试紫外光对涂层的老化作用[C]. 北京:中国腐蚀与防护学会,2002.
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