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题名: 含小角晶界铜双晶中晶界裂纹与晶内裂纹尖端附近区域的位错结构观察
作者: 李勇;  李守新;  李广义
出版日期: 2002-10-14
会议日期: 2002-10-14
摘要: 利用扫描电子显微镜—电子通道衬度(SEM—ECC)技术对经过对称拉—压疲劳的含小角晶界铜双晶体的晶界裂纹尖端以及晶内裂纹尖端附近区域的位错结构进行了观察,对于由晶界附近的裂纹源沿滑移带撞击晶界引发的晶界表面裂纹,其附近区域的位错结构分别对应于两晶粒各自的位错结构,在其尖端存在一微小的位错结构变形区,区内的位错结构近似于胞状结构.对于晶内由于形变带引发的裂纹尖端位错结构则为不规则的位错墙结构与胞状结构.
会议名称: 第十一届全国疲劳和断裂学术会议
KOS主题词: crack tip
会议文集: 疲劳、断裂、工程设计(2002)
Appears in Collections:中国科学院金属研究所_会议论文

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李勇,李守新,李广义. 含小角晶界铜双晶中晶界裂纹与晶内裂纹尖端附近区域的位错结构观察[C]. 疲劳、断裂、工程设计(2002).北京.机械工业出版社.2002.
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