| 循环形变单晶体驻留滑移带的演化 | |
| 杨继红; 李守新; 李勇; 柯伟 | |
| 2002-10-14 | |
| 会议名称 | 第十一届全国疲劳和断裂学术会议 |
| 会议录名称 | 疲劳、断裂、工程设计(2002) |
| 会议日期 | 2002-10-14 |
| 会议地点 | 西安 |
| 出版地 | 北京 |
| 出版者 | 机械工业出版社 |
| 摘要 | 采用三维离散位错静力学方法,利用扫描电镜电子通道衬度(SEM-ECC)技术对单滑移取向疲劳Cu单晶驻留滑移带(PSBs)形成位错结构的演化进行观察的结果,对这个演化过程中典型的位错结构进行了模拟计算,给出了PSBs演化过程中典型位错结构内应力场的分布鞋.由计算机模拟和对内应力场的计算分析对PSBs演化给出了一个新的可能的演化机制. |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所 |
| 关键词 | 循环形变cu单晶 驻留滑移带 模拟 内应力场 疲劳损伤 扫描电镜电子通道衬度 |
| 主办者 | 中国机械工程学会;中国金属学会;中国材料研究学会;中国航空学会;中国腐蚀与防护学会;中国力学学会 |
| 语种 | 中文 |
| 文献类型 | 会议论文 |
| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/69995 |
| 专题 | 中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨继红,李守新,李勇,等. 循环形变单晶体驻留滑移带的演化[C]. 北京:机械工业出版社,2002. |
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