TiAl-W-Si合金中的偏析与析出相的分析电子显微术研究

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	TiAl-W-Si合金中的偏析与析出相的分析电子显微术研究
	于荣; 贺连龙; 程志英; 朱静; 叶恒强
	2002-09-01
会议名称	第十一届全国钛及钛合金学术交流会议
会议录名称	金属学报第38卷增刊
会议日期	2002-09-01
会议地点	宝鸡
出版地	沈阳
出版者	《金属学报》编辑部
摘要	用高空间分辨分析电子显微术研究了TiAl-W-Si合金中B2相的析出行为和元素W的分布.结果表明,α<,2>/γ相界面台阶由于W的富集而成为B2析出相的择尤形核位置.B2相中,高达三分之一的Al原子被W原子置换,而在γ相中只固溶了很有限的W.另外,W也偏析在α<,2>/γ和B2/γ相界面上.这些结果合理地解释了W对提高TiAl合金蠕变性能的显著作用.
部门归属	中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室(沈阳);清华大学材料科学与工程研究所电子显微学实验室(北京);
关键词	分析电子显微术 Tial合金析出相偏析钛合金
主办者	中国金属学会;中国材料研究学会;中国有色金属学会
语种	中文
文献类型	会议论文
条目标识符	http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/70074
专题	中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	于荣,贺连龙,程志英,等. TiAl-W-Si合金中的偏析与析出相的分析电子显微术研究[C]. 沈阳:《金属学报》编辑部,2002.