用磁介质环电流模型对裂纹状缺陷磁粉和漏磁探伤能力的研究

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	用磁介质环电流模型对裂纹状缺陷磁粉和漏磁探伤能力的研究
	蔡桂喜; 董瑞琪
	2004-10-14
会议名称	中国金属学会第十二届分析测试学术年会
会议录名称	冶金分析(下册)
会议日期	2004-10-14
会议地点	北京
出版地	北京
出版者	中国金属学会
摘要	采用磁介质环电流模型计算各种槽形缺陷产生的漏磁场,包括标准规定的漏磁探伤对比试件上的人工伤、磁粉探伤标准试块上的人工伤、用数学方法模拟的疲劳裂纹和被检工件表面粗糙度等产生的漏磁场.将上述各种缺陷产生的漏磁场加以比较可以看出,由于疲劳裂纹开裂的缝隙十分狭窄,它所产生的漏磁场远小于人工标准伤所产生的漏磁场,也小于表面粗糙度所产生的漏磁场.因此结论认为:用磁粉法和漏磁法探测疲劳裂纹时,需要特别谨慎.挽言之,磁粉和漏磁两种方法不适合探测开裂缝隙很窄的疲劳裂纹.
部门归属	中国科学院金属研究所(辽宁沈阳)
关键词	环电流模型漏磁探伤磁粉探伤疲劳裂纹
主办者	中国金属学会
语种	中文
文献类型	会议论文
条目标识符	http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/70249
专题	中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	蔡桂喜,董瑞琪. 用磁介质环电流模型对裂纹状缺陷磁粉和漏磁探伤能力的研究[C]. 北京:中国金属学会,2004.