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IMR OpenIR  > 中国科学院金属研究所  > 会议论文

题名: Ti-Al系多层扩散偶界面金属间化合物的生长
作者: 徐磊;  崔玉友;  杨锐
出版日期: 2005-10
会议日期: 2005-10
摘要: 本文采用Ti-Al多层扩散偶分析了520℃~650℃温度范围内的Ti/Al固态反应扩散.对Ti/Al结合界面进行了扫描电镜、能谱分析、电子探针和X射线衍射分析.结果表明:在Al的熔点以下时,TiAl3是唯一的Ti/Al界面反应产物,得到了Ti/Al固态反应扩散的动力学规律,分析了Ti/Al界面反应的热力学,解释了TiAl3相为唯一界面反应产物的原因.
会议名称: 第十二届全国钛及钛合金学术交流会
KOS主题词: X-ray crystallography
会议文集: 稀有金属材料与工程
Appears in Collections:中国科学院金属研究所_会议论文

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徐磊,崔玉友,杨锐. Ti-al系多层扩散偶界面金属间化合物的生长[C]. 稀有金属材料与工程.2005.
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