| Ti-Al系多层扩散偶界面金属间化合物的生长 |
| 徐磊; 崔玉友; 杨锐
|
| 2005-10
|
| 会议名称 | 第十二届全国钛及钛合金学术交流会
|
| 会议录名称 | 稀有金属材料与工程
|
| 会议日期 | 2005-10
|
| 会议地点 | 西安
|
| 摘要 | 本文采用Ti-Al多层扩散偶分析了520℃～650℃温度范围内的Ti/Al固态反应扩散.对Ti/Al结合界面进行了扫描电镜、能谱分析、电子探针和X射线衍射分析.结果表明:在Al的熔点以下时,TiAl3是唯一的Ti/Al界面反应产物,得到了Ti/Al固态反应扩散的动力学规律,分析了Ti/Al界面反应的热力学,解释了TiAl3相为唯一界面反应产物的原因. |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所,辽宁,沈阳,110016
|
| 关键词 | 多层扩散偶
生长动力学
Tial3
扫描电镜
能谱分析
电子探针
X射线衍射
|
| 主办者 | 中国有色金属学会
|
| 语种 | 中文
|
| 文献类型 | 会议论文
|
| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/70368
|
| 专题 | 中国科学院金属研究所
|
推荐引用方式
GB/T 7714 |
徐磊,崔玉友,杨锐. Ti-Al系多层扩散偶界面金属间化合物的生长[C],2005.
|
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论