| 酸性溶液中微晶铝的电化学腐蚀行为研究 |
| 张波; 李瑛; 王福会
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| 2006-05
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| 会议名称 | 2006年全国腐蚀电化学及测试方法学术会议
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| 会议录名称 | 2006年全国腐蚀电化学及测试方法学术会议论文集
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| 会议日期 | 2006-05
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| 会议地点 | 厦门
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| 摘要 | 利用磁控溅射的方法在玻璃基体上制备了微晶铝膜.结构分析表明,其晶粒尺度在400nm左右.利用动电位极化曲线对其在酸性(pH=2)的含Cl-(0.5mol/LNaCl)和不含Cl-(0.5mol/LNaSO4)两种溶液体系中的电化学性能进行研究,并将其与铸铝进行了比较,结果表明其自腐蚀电位下降,自腐蚀电流略有增加,而维钝电流、点蚀击破电位以及钝化区间都大大增加.通过容抗测量(Mott-schottky曲线)对其钝化膜的电学性质进行了表征,结果发现在酸性的NaSO4溶液中,微晶铝和铸态铝上的钝化膜都表现为n型半导体性质;而在酸性的NaCl溶液中,铸态铝上的膜仍皇n型半导体性质,但微晶铝上的膜的电学性质发生了逆转,呈p型半导体性质.并进一步分析了膜的电子性质与其电化学性能之间的内在联系. |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所,金属腐蚀与防护国家重点实验室,沈阳
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| 关键词 | 微晶铝
磁控溅射
点蚀
半导体性能
电化学腐蚀
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| 主办者 | 中国腐蚀与防护学会
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| 语种 | 中文
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| 文献类型 | 会议论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/70427
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
张波,李瑛,王福会. 酸性溶液中微晶铝的电化学腐蚀行为研究[C],2006.
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